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SD T271G RFID射频识别技术实验箱

产品简介

RFID射频识别技术实验箱,用于辅助RFID识别技术、生物识别等理论课程,通过实训不仅使学生了解和掌握以RFID为主的多种识别技术的硬件、原理及用途,同时能提高学生动手操作能力及安全防范意识,还能发掘其创造潜能,以便更好的适应社会需求,是大中专院校、技校、职校实现一体化教学的理想设备。

该实验箱所有模块采用磁吸式接口设计及搭积木式架构,采用标准的12路弹性插针,可以实现供电、仿真调试、数据通信、IO口拓展等功能;同时支持搭积木式的多级磁吸连接,无须外接跳线,通过弹性插针即可通信。即:调试底板模块+STM32处理器模块+RFID读卡器模块(LF/HF/UHF/NFC/条形码)(3层垂直积木,无须额外接线),可拓展性极强。

 

技术参数

该产品包含125KHz低频模块、13.56MHz高频模块、915MHz超高频模块、2.4GHz有源读写模块、NFC读卡器模块 、条码识别模块、ARM单片机处理器模块、调试底板模块、系统开发软件资源等。

参考实训项目

125KHz低频模块原理及实验

1.EM4100标签内部结构简介

2.T5557标签内部结构简介

3.低频读卡器与PC的联机测试

4.EM4100卡读ID号实验

5.T5557卡初始化配置

6.T5557卡快速读取页数据

7.T5557卡单块及多块读/写操作

8.T5557卡复制ID卡操作

13.56MHz高频模块原理及实验

1.寻找单张、多张标签及标签总量

2.读写单个块/多个块操作

3.锁定标签块操作

4.读写多个块数据

5.设置标签进入静默状态

6.设置标签处于被选择状态

7.复位标签进入准备状态

8.向标签写应用标志位

9.锁定应用标志位

10.写数据存储格式标志位

11.锁定数据存储格式ID标志位

12.获取标签信息

13.获取多个块安全状态

915MHz超高频模块原理及实验

1.EPC单卡及多卡识别实验

2.TID单卡及多卡识别实验

3.EPC读写操作实验

4.GEN2标签的列举数据及多字节操作实验

5.GEN2标签USER数据读写实验

有源读写模块实验

1.2.4G基站读写器设置实验

2.2.4G标签设置实验

3.信道及PID查询修改实验

4.2.4G标签LED控制实验

5.2.4G标签蜂鸣器控制实验

6.2.4G标签flash8数据读取实验

7.2.4G标签flash5写操作实验

8.标签上报应用实验

NFC 读卡器模块实验

1.NFC 读卡器设置实验

2.NFC 读卡器写实验

3.NFC 读卡器读实验

4.通过NFC 读卡器进行寻卡实验

条码采集模块

1.一维码识别实验

2.二维码识别实验

3.一维码生成实验

4.二维码生成实验

ARM单片机处理器模块实验

1.跳线连接实验

2.控制RFID各模块实验

3.各功能模块自动切换实验

以上项目仅供参考,各院校及机构可根据实际需求进行增加。